半导体器件可靠性测试解决方案
2021-09-06 15:26:51
- 简要说明 :
- 科明(KOMEG)集成电路可靠性试验方案,包含有线通信、消费电子、汽车电子、分立器件、光电器件、传感器、半导体等试验方法和各类试验标准。
- 文件版本 :
- 2021.09版
声明:转载请注明出处,本文档提取码1990。
科明KOMEG始于1990年,拥有30年+研发生产经验,全球数以千万计客户的信赖,目前拥有适应各个行业的一系列设备供客户选型。主营产品有有温度(湿度)循环试验箱、冷热温度冲击箱、快速热循环试验箱(室)、ESS环境应力筛选试验箱、气候老化试验箱、大型(步入式)环境试验室等可靠性试验设备。产品广泛应用于电子器件、机电产品、材料能源、医药化工、汽车航天等领域。
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